基因變異致過度活躍症
【本報綜合報道】過度活躍症兒童困擾不少家庭，但醫學界對其成因未有定論。英國一項基因研究首次發現，過度活躍症兒童的遺傳基因異常，令他們的腦部發育與正常兒童有差異。有關研究或有助研發新藥，已刊於權威醫學期刊《刺針》。
英國加的夫大學招募一千四百多名兒童參與研究，當中三百六十六名患有過度活躍症，一千零四十七名為正常兒童。研究人員為每名兒童進行基因圖譜分析，結果發現患有過度活躍症的兒童，其基因（DNA）明顯比正常兒童更容易出現「拷背數變異」，即基因片段有所缺失，或基因片段複製異常。
腦功能失調 礙集中力
研究指，過度活躍症兒童的基因問題多發生在第十六對染色體，研究專家稱，結果足以證實過度活躍症是一種遺傳失調疾病，令患病兒童的腦部發育與正常兒童有偏差。以往的研究曾指出，一名雙生兒患過度活躍症，另一孖生兄弟姊妹發病率高達七成半。
過度活躍症又名專注力失調，發病率約為百分之三至五，男孩患病率較女孩高。患病兒童有輕微腦功能失調，致注意力難以集中，異常好動，自我控制力低，但多無智力障礙。該症至今並無有效根治方法，需靠藥物及行為治療雙管齊下。專家認為今次發現有助日後科學家研發針對性新藥。