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基因變異致過度活躍症

【本報綜合報道】過度活躍症兒童困擾不少家庭,但醫學界對其成因未有定論。英國一項基因研究首次發現,過度活躍症兒童的遺傳基因異常,令他們的腦部發育與正常兒童有差異。有關研究或有助研發新藥,已刊於權威醫學期刊《刺針》。

英國加的夫大學招募一千四百多名兒童參與研究,當中三百六十六名患有過度活躍症,一千零四十七名為正常兒童。研究人員為每名兒童進行基因圖譜分析,結果發現患有過度活躍症的兒童,其基因(DNA)明顯比正常兒童更容易出現「拷背數變異」,即基因片段有所缺失,或基因片段複製異常。

腦功能失調 礙集中力

研究指,過度活躍症兒童的基因問題多發生在第十六對染色體,研究專家稱,結果足以證實過度活躍症是一種遺傳失調疾病,令患病兒童的腦部發育與正常兒童有偏差。以往的研究曾指出,一名雙生兒患過度活躍症,另一孖生兄弟姊妹發病率高達七成半。

過度活躍症又名專注力失調,發病率約為百分之三至五,男孩患病率較女孩高。患病兒童有輕微腦功能失調,致注意力難以集中,異常好動,自我控制力低,但多無智力障礙。該症至今並無有效根治方法,需靠藥物及行為治療雙管齊下。專家認為今次發現有助日後科學家研發針對性新藥。

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